技术指标  

  发送端： 
  输出接口—75Ω平衡、120Ω平衡，符合G.703要求  
信号结构—非成帧  成帧(PCM30、PCM31、PCM30CRC、PCM31CRC) 成帧信号符合G.704、nx64kbit/s结构  线路编码—HDB3或AMI  信号速率—2048kbit/s  内时钟准确度—优于±10ppm   时钟方式—内部、外部、提取  
输出固有抖动—小于0.05UI(20Hz-100kHz)   测试码型—伪随机序列2E9-1、2E11-1、2E15-1 符合ITU-T0.151 人工码8bit   空闲时隙码型—8bit人工码  误码插入—FAS ERR 单次、连续2、连续3连续4   BIT ERR 单次、10E-3、10E-4    图案滑动—PAT SLIP  

   接收端：
   信号输入口阻抗——终接：75Ω非平衡、120Ω平衡。发射损耗符合G.703   跨接：非平衡大于750Ω，平衡大于1200Ω   监测：监测输入灵敏度20dB   信号输入口均衡特性—0-9dB  
信号输入口抖动容限—符合G.823     

输入口抗干扰能力—符合G.703    

信号结构—非成帧   成帧（PCM30、PCM31、PCM30CRC、PCM31CRC）  

成帧信号符合G.704 nx64kbit/s结构   线路编码—HDB3或AMI      

信号速率：2048kbit/s±50ppm      

测试码型：伪随机序列 2E9-1、2E11-1、2E15-1 符合ITU-T0.151 人工码8bit    

频率测试：测试线路信号频率，测试话路通道信号频率    

电平测试：测试线路信号电平，测试话路通道信号电平    

误码检测：帧误码(FAS ERR)、比特误码(BIT ERR)、CRC-4误码性能测试、编码误码(COD ERR)  
告警检测：AIS、SIG LOSS、RA、MRA、FAS LOSS、CRC LOSS、PATT LOSS、PAT SLIP   

 滑码检测：码型滑码(PAT SLIP)  时钟滑码(CLK SLIP)    

 环路延时测试：测试环路时延性能     

误码性能分析：G.821、G.826、M.2100  
外时钟输入端口阻抗：终接：75Ω非平衡,120Ω平衡。  

反射损耗， 符合G.703  
跨接：非平衡大于750Ω ，平衡大于1200Ω  
外时钟输入端口信号：HDB3/AMI信号，符合ITU-T ，G.703脉冲信号，峰值大于2.5V 

	LES-100	LED-100
成帧、非成帧2Mbit/s电路各项基本测试	√	√
PC机联机，软件网上升级	√	√
图案滑动（PAT SLIP）测试	√	√
自动保护倒换（APS）测试	√	√
外时钟及相关功能	×	√
同时测试2个2M口	×	√
G .703脉冲模板功能	×	√
时钟拉偏测试	×	√
同向64k、V.35、V.24、X.21、RS449	×	√