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光缆大衰耗点产生的几种现象和原因

(2021-12-27 10:39:40)

光缆线路的施工中,光缆线路的衰耗指标是一项重要的考核指标,不但要考核施工完毕的光缆线路的光纤平均损耗系数,还要考核光缆线路光纤散射曲线,光缆线路的平均损耗系数和总损耗不但要符合设计要求,还要符合施工规范和验收标准的指标要求,而且要求光纤散射曲线比较均匀,曲线上不应出现较大的衰耗台阶,以保证光缆线路的光特性技术指标符合施工规范和验收标准的要求。

1.1 敷设时产生的大衰耗点

光缆施工中,由于光缆敷设长度一般在2~3KM直埋敷设时,穿越的障碍物较多,在施工中,敷设人员较多,敷设距离较远,难以保证所有敷设人员协调行动,特别是通过障碍物较多时,如:穿越防护钢管,拐弯、上下坡等,从而出现俗称的光缆打背扣(出现死弯)现象,对光缆造成严重伤害。

一旦发生死弯现象,此处必然会出现一个大衰耗点,严重的会发生部分或全部光纤断裂现象,这是光缆 施工中容易出现的故障现象。此外,在敷设光缆时,光缆端头的光缆最容易受到损伤,在接续时,往往在接续点处显示有较大衰耗值,此时,即使多次重复熔接,也不能降低接续损耗值,从而形成一个较大的衰耗点。

1.2 接续过程中产生的大衰耗点

光缆接续过程中,产生大衰耗点是经常发生的,我们一般用OTDR(光时域反射仪)进行监测,即每熔接一根光纤,都用OTDR测试一下熔接点的衰耗值,具体测试时,采用双向监测法,由于光纤制造过程中存在的差异性,两根光纤不可能完全一致,总是存在模场直径不一致现象,从而导致了用OTDR所测的损耗值并不是接续点的实际损耗值,其数值有正有负,一般用双向测试值的算术平均值作为实际衰耗值。在接续时,一般用实时监测法,基本能保证熔接损耗达到控制目标,但经常产生大损耗点的原因是在熔接完毕后进行光纤收容时,部分光纤受压或弯曲半径过小,即形成一个大衰耗点。

因为1550nm波长的光纤对微弯损耗非常敏感,光纤一旦受压,即产生一个微弯点,或盘纤时,弯曲半径过小,光纤信号在此处也产生较大的衰耗,表现在光纤后向散射曲线上,就形成了一个较大的衰耗台阶;

另外,一个比较容易忽视的原因是光缆接头盒组装完成后,固定接头盒和固定光缆时,由于光缆在接头盒内固定的不是很牢固,造成光缆拧转,使光纤束管变形,由于光纤受压,造成光纤衰耗值急剧增加,形成衰耗台阶。

1.3 运输和装卸造成的大衰耗点

光缆运输到施工现场时,由于现场环境比较恶劣,特别是敷设铁路通信光缆时,吊车往往无法到达施工现场,此时,常常是通过人力装卸光缆,在光缆卸下的过程中,外层光缆经常受到损伤,原因是光缆盘直径过小,导致外层光缆离地面距离过近,由于现场地面土质软硬不一,崎岖不平,在滚动光缆盘的过程中,光缆盘陷入地面,导致外层光缆被地面硬物硌坏,主要原因是部分厂家为降低生产成本,采用较小的光缆盘。

此外,光缆盘未用木板进行包封(有些是铁架光缆盘,无法用木板进行包封),而仅用塑料布在光缆外层进行包裹,或者是单盘测试后,光缆盘包封未恢复,起不到应有的防护作用,当光缆外层被石头等硬物硌伤后,光纤在束管中受压,即产生一个衰耗台阶,表现在光纤后向散射曲线上,就形成一个较大的衰耗点。

1.4 成端过程中产生的大衰耗点

光缆成端过程中,也经常会产生大衰耗点。在成端时,由于一般不进行熔接损耗监测,仅凭经验操作,因此,产生大衰耗点的几率也大增。

此外,在光纤熔接后安装收容盘时,往往造成收容盘附近 的光纤束管弯曲半径过小或造成光纤束管拧转变形,使光纤在此处产生一个较大的衰耗点,此类大衰耗点一般比较隐蔽,不像线路中间的大衰耗点用OTDR可以直接测出。

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